NI半导体测试平台

许多半导体的检验与特性实验室，都依赖机架堆叠仪器搭配大量的手动测试程序，而生产测试单位则使用完整、高效通的昂贵自动化测试设备ATE来完成。从实验室到产线所采用的测试方法不同，很难能够进行很好的关联（correlation),使得整体的测试成本难以降低。因此最佳的系统优化应透过通用的统一的测试平台，可因应设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门可轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能，进而降低成本。

NI​方法​的​优势

  • 降低​测试​成本

    一个​适用​于​从​特性​分析​到​生产​的​平台​方法，​为​RF​和​混合​信号​测试​提供​了​更​低成本​的​高性能​测试​解决​方案。

  • 更​快速​的​测试

    NI​半导体​测试​客户​反映：​在​满足​测量​和​性能​要求​的​同时，​测试​时间​缩短​了​10​倍。

  • 更​精准​的​测量

    NI​产品​提供​了​业界​领先​的​测量​精度，​并​通过​NI​校准​和​系统​服务​来​确保​精度​的​长期​有效性。

白皮书下载

第一轮6月19日，抽取二等奖: 罗马仕5000mAh 移动电源(8名)；

第二轮7月14日，抽取三等奖: 20元话费充值(20名)，
及一等奖: 头戴式蓝牙耳机(1名)。

活动

说明

1. 正确回答所有问题并填写个人资料，即可获得抽奖资格；
2. 每个参与者最多获取一个奖项；第一轮未获奖者，可继续参与第二轮抽奖；
3. 如因故无法提供原定奖品，主办发将提供其他相同价值产品，奖品不能兑换现金；
4. 所有奖品将统一在活动结束后的14个工作日内寄出；
5. 如因注册报名信息不全，导致在活动结束前无法与您取得联系，将视为自动放弃领奖机会（本活动最终解释权归OFweek所有）；温馨提示：参与3月30日-5月5日第一期有奖问答的用户，谢绝参加本期有奖问答。

问答问题

问答问题

问答问题

NI半导体有奖知识小测验，轻松赢好礼！

找答案，下载白皮书：2018半导体测试解决方案-Final.pdf

应用
了解更多NI半导体测试解决方案及优势

答完问卷即可下载

确      定